簡要描述：

日本filmetrics板厚測(cè)量系統(tǒng)F3-sX
可以高精度測(cè)量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測(cè)量高達(dá) 3 mm 的厚膜。
憑借 10 μm 的小光斑直徑，可以測(cè)量粗糙和不均勻的薄膜。
通過添加自動(dòng)載物臺(tái)，可以輕松測(cè)量面內(nèi)分布。

在線咨詢點(diǎn)擊收藏

詳細(xì)介紹

日本filmetrics板厚測(cè)量系統(tǒng)F3-sX

undefined

主要特點(diǎn)

高精度測(cè)量硅基板和玻璃基板的厚度
配備自主研發(fā)的高波長分辨率分光鏡！可測(cè)量高達(dá) 3 mm 的厚膜
10 μm 的小光斑直徑可以測(cè)量粗糙和不均勻的薄膜。
通過添加自動(dòng)平臺(tái)輕松測(cè)量面內(nèi)分布

可以高精度測(cè)量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測(cè)量高達(dá) 3 mm 的厚膜。
憑借 10 μm 的小光斑直徑，可以測(cè)量粗糙和不均勻的薄膜。
通過添加自動(dòng)載物臺(tái)，可以輕松測(cè)量面內(nèi)分布。

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體平板顯示器

硅基板、LT基板、Ti基板等的厚度測(cè)量

測(cè)量玻璃基板厚度和氣隙

產(chǎn)品陣容

模型F3-s980F3-s1310F3-s1550測(cè)量波長范圍

膜厚測(cè)量范圍
（Si 基板）

膜厚測(cè)量范圍
（玻璃基板）性測(cè)量光斑直徑


960 – 1000nm	1280 – 1340nm	1520 – 1580nm
4 微米 – 350 微米	7 微米 – 1 毫米	10 微米 – 1.3 毫米
10 微米 – 1 毫米	15 微米 – 2 毫米	25 微米 – 3 毫米
± 0.4% 薄膜厚度
10微米

*取決于樣品和測(cè)量條件

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：2364日本進(jìn)口昭和測(cè)器SHOWA加速度傳感器
下一篇：SHOWA 7135日本進(jìn)口昭和測(cè)器平衡器

国产成人精品白浆久久69,欧美乱妇高清无乱码在线观看,久久精品国产亚洲AV高清热,日本动漫瀑乳H动漫啪啪免费

簡要描述：

主要特點(diǎn)

主要應(yīng)用

產(chǎn)品陣容

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：

電話